Effect of Temperature and Film Thickness on Residual Stress and Microstructure of Er Doped ZnO Thin Films"


Creative Commons License

İpek C. , Tosun M., Baytak T., Bulut O., Dönmez A. A. , Ataoğlu Ş., et al.

International Conference on Condensed Matter and Materials Science (ICCMMS- 2017), Adana, Türkiye, 11 - 15 Ekim 2017, ss.38

  • Basıldığı Şehir: Adana
  • Basıldığı Ülke: Türkiye
  • Sayfa Sayısı: ss.38